測(cè)試漏電起痕IEC/IS62217/TR62730實(shí)驗(yàn)方法
日期：2018-11-16 有1530人瀏覽
額定電壓高于1000V的戶內(nèi)及戶外用復(fù)合絕緣子: 一般定義、試驗(yàn)方法? 第1版發(fā)布時(shí) (2005), 該標(biāo)準(zhǔn)包含了三個(gè)評(píng)估復(fù)合絕緣外護(hù)套耐漏電起痕和電蝕損性能的試 驗(yàn)。在2012年發(fā)布的第2版中, IEC技術(shù)委員會(huì)TC36和工作組WG12選用1000小時(shí)鹽霧試驗(yàn) 作為唯一的標(biāo)準(zhǔn)化試驗(yàn)。這個(gè)決定是經(jīng)過反復(fù)調(diào)查, 以及包括絕緣子制造商、終端用戶和 測(cè)試實(shí)驗(yàn)室的投票程序后決定的。然后將5000小時(shí)綜合老化試驗(yàn)和轉(zhuǎn)輪試驗(yàn)移到另一個(gè)獨(dú) 立的技術(shù)報(bào)告 (TR) 中作為漏電起痕和電蝕損的附加試驗(yàn), 但主要用于研究。該文件隨后作為 IEC/TR 62730《戶內(nèi)戶外用高壓復(fù)合絕緣子: 通過轉(zhuǎn)輪試驗(yàn)和5000小時(shí)試驗(yàn)進(jìn)行的漏電起痕 和電蝕損試驗(yàn)》于2012年發(fā)布。值得一提的是, 技術(shù)報(bào)告 (TR) 是國際標(biāo)準(zhǔn) (IS) 的初步階段。
測(cè)試漏電起痕和電蝕 損的替代試驗(yàn)方法: IEC/IS62217與 IEC/TR62730 IEC 測(cè)試漏電起痕和電蝕損的替代試驗(yàn)方法: IEC/IS62217與 IEC/TR62730 Screenshot 2015 04 08 10
鹽霧試驗(yàn)是幾個(gè)標(biāo)準(zhǔn)化設(shè)計(jì) (又稱 “原型”) 試驗(yàn)之一, 目的是驗(yàn)證設(shè)計(jì) (形狀, 幾何參數(shù))、材 料和生產(chǎn)方法的適用性。通過探測(cè)運(yùn)行中會(huì)降低運(yùn)行性能的任何薄弱環(huán)節(jié)進(jìn)行驗(yàn)證。這三 個(gè)漏電起痕和電蝕損試驗(yàn) (也稱 “老化試驗(yàn)”) 并非都是自然加速老化試驗(yàn), 因此不提供模擬 真實(shí)運(yùn)行情況下的老化, 也不提供加速老化因素在短時(shí)間內(nèi)的壽命等效試驗(yàn)。
因?yàn)?000小時(shí)的連續(xù)鹽霧試驗(yàn)非常嚴(yán)酷 (不允許有恢復(fù)周期), 可以很好地評(píng)估復(fù)合絕 緣護(hù)套的耐漏電起痕和電蝕損的現(xiàn)象。該試驗(yàn)也驗(yàn)證設(shè)計(jì), 也就是端頭配件和外護(hù) 套的交界面的質(zhì)量, 以及外護(hù)套的外形設(shè)計(jì)。在憎水性能喪失又沒有時(shí)間恢復(fù)的染污 條件下, 試驗(yàn)結(jié)果良好的材料表現(xiàn)出優(yōu)異的現(xiàn)場(chǎng)運(yùn)行性能。IEC 62217中對(duì)這一過程 現(xiàn)在已經(jīng)明確定義, 試驗(yàn)過程考慮了絕緣子直徑和爬電系數(shù)的差異性, 以防止試驗(yàn)期 間發(fā)生閃絡(luò)。事實(shí)上, 如果發(fā)生污閃超過2次, 這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)要求降低鹽霧密度以限制污閃 的數(shù)量, 從而完成試驗(yàn)以及對(duì)材料的耐漏電起痕和電蝕損性能的測(cè)試。此外, 朝試樣 表面直接噴鹽霧, 可能影響試驗(yàn)樣品閃絡(luò)狀況的方法是不允許的。針對(duì)鹽霧試驗(yàn)的改 進(jìn)措施在5000小時(shí)綜合老化試驗(yàn)中不存在, 即24小時(shí)試驗(yàn)周期內(nèi)進(jìn)行2×4小時(shí)密度為 7kg/m3的鹽霧試驗(yàn), 并且與直徑和爬電系數(shù)無關(guān)。此外, 鹽霧是直接噴灑到試驗(yàn)樣品上。
我ZUI近受邀評(píng)判大直徑硅橡膠絕緣子5000小時(shí)老化試驗(yàn)的比較結(jié)果。對(duì)傘形、直 徑和復(fù)合外護(hù)套不同的兩種不同試驗(yàn)樣品進(jìn)行了研究。**個(gè)樣品 (A) 的外護(hù)套 是高溫硫化硅橡膠 (HTV), 而第二個(gè)樣品 (B) 則是室溫硫化硅橡膠 (LSR)。樣品A的護(hù) 套直徑為96mm, 樣品B的護(hù)套直徑為145mm。爬電距離相同, 爬電系數(shù)小于3。
當(dāng)比較護(hù)套直徑和起始鹽霧鹽度 (IEC 62217標(biāo)準(zhǔn)1000小時(shí)鹽霧試驗(yàn)中描述的) 之間的 關(guān)系時(shí), 直徑范圍為50-150mm, 一般要求鹽霧密度為4kg/m3, 而此處為7kg/m3。此 外, 樣品B的直徑十分接近下一個(gè)較低鹽霧密度水平2kg/m3所對(duì)應(yīng)的直徑, 即直徑超 過150mm情況下施加的鹽霧密度。不足為奇, 5000小時(shí)老化試驗(yàn)的**個(gè)1000小時(shí) 內(nèi), 樣品B頻繁閃絡(luò), 當(dāng)閃絡(luò)發(fā)生在夜間時(shí), 試驗(yàn)被中斷。通常情況下, 由于混合和配料 設(shè)備需要低粘度的工藝壓力, LSR沒有填料 (如氫氧化鋁ATH) 以提高耐漏電起痕和電 蝕損性能。閃絡(luò)發(fā)生在暴露的直接接受噴霧的區(qū)域, 并在端部配件和外護(hù)套之間的區(qū) 域引起了電蝕損 (見圖1)。盡管電蝕損是表皮的, 但是試驗(yàn)中斷的原因部分是由于損 傷以及也由于不確定的持續(xù)時(shí)間。相比之下, 樣品A既不受閃絡(luò)影響也不受電蝕損影 響 (圖2)。然后對(duì)兩個(gè)樣本的憎水性進(jìn)行了檢測(cè)。LSR材料變?yōu)橛H水性, 而HTV材料卻 保持著良好的憎水性。聯(lián)系到其護(hù)套的直徑大, 這一點(diǎn)解釋了直接噴霧期間的閃絡(luò)。
這引發(fā)了一個(gè)疑問, 用于絕緣子外護(hù)套的某些商用硅橡膠是否提供了耐久的憎水 性能。在CIGRE工作組WG D1.14和D1.27內(nèi)部研發(fā)了動(dòng)態(tài)水滴試驗(yàn), 試驗(yàn)結(jié)果作 為TB 442 ?非陶瓷戶外絕緣中復(fù)合材料的動(dòng)態(tài)憎水特性評(píng)估: 憎水性保持和憎水性 遷移?在2010年12月出版, INMR 2011年第二期中對(duì)該試驗(yàn)進(jìn)行了簡(jiǎn)短的闡述。采 用這個(gè)試驗(yàn)對(duì)直流應(yīng)力下的該課題進(jìn)行了更加深入的研究。德國的兩所大學(xué)對(duì)從 交流到直流試驗(yàn)的再現(xiàn)性進(jìn)行了研究。這個(gè)試驗(yàn)在有效值為4kV的交流和幅值為 5.66kV (與峰值為4kV的交流電壓等效) 的正極性直流電壓下進(jìn)行。
試驗(yàn)結(jié)果2014年在 Electra 272中發(fā)表 (圖中TUM為慕尼黑科技大學(xué), Zittau為齊陶大學(xué)), 表明兩所大學(xué)實(shí) 驗(yàn)室的試驗(yàn)結(jié)果沒有顯著差異。然而, 所研究材料的憎水性能喪失的時(shí)間不同。LSR憎 水性能喪失得似乎比HTV快, 上述試驗(yàn)樣品的5000小時(shí)綜合老化試驗(yàn)的**個(gè)1000小 時(shí)內(nèi)的試驗(yàn)也證實(shí)了這一結(jié)果。現(xiàn)在將要對(duì)這兩種不同材料再次做動(dòng)態(tài)水滴試驗(yàn)。
ZUI后, 5000小時(shí)綜合老化試驗(yàn)有時(shí)也用來檢測(cè)復(fù)合護(hù)套絕緣子的耐漏電起痕和電蝕損 的性能, 但這是非強(qiáng)制性的, 不像1000小時(shí)連續(xù)鹽霧試驗(yàn)是強(qiáng)制性的。但涉及到大直 徑的試驗(yàn)樣品時(shí), 就成為了閃絡(luò)試驗(yàn), 而不是電蝕損試驗(yàn)。因此建議在維護(hù)小組修訂 IEC 62730時(shí), 按照IEC 62217中規(guī)定的要求修正鹽霧條件。注釋: 該文采用通用術(shù)語, 如HTV和LSR。試驗(yàn)中涉及的材料, 適用于復(fù)合絕緣市場(chǎng)上使用的各種硅橡膠材料。
測(cè)試漏電起痕和電蝕 損的替代試驗(yàn)方法: IEC/IS62217與 IEC/TR62730 IEC 測(cè)試漏電起痕和電蝕損的替代試驗(yàn)方法: IEC/IS62217與 IEC/TR62730 Screenshot 2015 04 08 10
鹽霧試驗(yàn)是幾個(gè)標(biāo)準(zhǔn)化設(shè)計(jì) (又稱 “原型”) 試驗(yàn)之一, 目的是驗(yàn)證設(shè)計(jì) (形狀, 幾何參數(shù))、材 料和生產(chǎn)方法的適用性。通過探測(cè)運(yùn)行中會(huì)降低運(yùn)行性能的任何薄弱環(huán)節(jié)進(jìn)行驗(yàn)證。這三 個(gè)漏電起痕和電蝕損試驗(yàn) (也稱 “老化試驗(yàn)”) 并非都是自然加速老化試驗(yàn), 因此不提供模擬 真實(shí)運(yùn)行情況下的老化, 也不提供加速老化因素在短時(shí)間內(nèi)的壽命等效試驗(yàn)。
因?yàn)?000小時(shí)的連續(xù)鹽霧試驗(yàn)非常嚴(yán)酷 (不允許有恢復(fù)周期), 可以很好地評(píng)估復(fù)合絕 緣護(hù)套的耐漏電起痕和電蝕損的現(xiàn)象。該試驗(yàn)也驗(yàn)證設(shè)計(jì), 也就是端頭配件和外護(hù) 套的交界面的質(zhì)量, 以及外護(hù)套的外形設(shè)計(jì)。在憎水性能喪失又沒有時(shí)間恢復(fù)的染污 條件下, 試驗(yàn)結(jié)果良好的材料表現(xiàn)出優(yōu)異的現(xiàn)場(chǎng)運(yùn)行性能。IEC 62217中對(duì)這一過程 現(xiàn)在已經(jīng)明確定義, 試驗(yàn)過程考慮了絕緣子直徑和爬電系數(shù)的差異性, 以防止試驗(yàn)期 間發(fā)生閃絡(luò)。事實(shí)上, 如果發(fā)生污閃超過2次, 這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)要求降低鹽霧密度以限制污閃 的數(shù)量, 從而完成試驗(yàn)以及對(duì)材料的耐漏電起痕和電蝕損性能的測(cè)試。此外, 朝試樣 表面直接噴鹽霧, 可能影響試驗(yàn)樣品閃絡(luò)狀況的方法是不允許的。針對(duì)鹽霧試驗(yàn)的改 進(jìn)措施在5000小時(shí)綜合老化試驗(yàn)中不存在, 即24小時(shí)試驗(yàn)周期內(nèi)進(jìn)行2×4小時(shí)密度為 7kg/m3的鹽霧試驗(yàn), 并且與直徑和爬電系數(shù)無關(guān)。此外, 鹽霧是直接噴灑到試驗(yàn)樣品上。
我ZUI近受邀評(píng)判大直徑硅橡膠絕緣子5000小時(shí)老化試驗(yàn)的比較結(jié)果。對(duì)傘形、直 徑和復(fù)合外護(hù)套不同的兩種不同試驗(yàn)樣品進(jìn)行了研究。**個(gè)樣品 (A) 的外護(hù)套 是高溫硫化硅橡膠 (HTV), 而第二個(gè)樣品 (B) 則是室溫硫化硅橡膠 (LSR)。樣品A的護(hù) 套直徑為96mm, 樣品B的護(hù)套直徑為145mm。爬電距離相同, 爬電系數(shù)小于3。
當(dāng)比較護(hù)套直徑和起始鹽霧鹽度 (IEC 62217標(biāo)準(zhǔn)1000小時(shí)鹽霧試驗(yàn)中描述的) 之間的 關(guān)系時(shí), 直徑范圍為50-150mm, 一般要求鹽霧密度為4kg/m3, 而此處為7kg/m3。此 外, 樣品B的直徑十分接近下一個(gè)較低鹽霧密度水平2kg/m3所對(duì)應(yīng)的直徑, 即直徑超 過150mm情況下施加的鹽霧密度。不足為奇, 5000小時(shí)老化試驗(yàn)的**個(gè)1000小時(shí) 內(nèi), 樣品B頻繁閃絡(luò), 當(dāng)閃絡(luò)發(fā)生在夜間時(shí), 試驗(yàn)被中斷。通常情況下, 由于混合和配料 設(shè)備需要低粘度的工藝壓力, LSR沒有填料 (如氫氧化鋁ATH) 以提高耐漏電起痕和電 蝕損性能。閃絡(luò)發(fā)生在暴露的直接接受噴霧的區(qū)域, 并在端部配件和外護(hù)套之間的區(qū) 域引起了電蝕損 (見圖1)。盡管電蝕損是表皮的, 但是試驗(yàn)中斷的原因部分是由于損 傷以及也由于不確定的持續(xù)時(shí)間。相比之下, 樣品A既不受閃絡(luò)影響也不受電蝕損影 響 (圖2)。然后對(duì)兩個(gè)樣本的憎水性進(jìn)行了檢測(cè)。LSR材料變?yōu)橛H水性, 而HTV材料卻 保持著良好的憎水性。聯(lián)系到其護(hù)套的直徑大, 這一點(diǎn)解釋了直接噴霧期間的閃絡(luò)。
這引發(fā)了一個(gè)疑問, 用于絕緣子外護(hù)套的某些商用硅橡膠是否提供了耐久的憎水 性能。在CIGRE工作組WG D1.14和D1.27內(nèi)部研發(fā)了動(dòng)態(tài)水滴試驗(yàn), 試驗(yàn)結(jié)果作 為TB 442 ?非陶瓷戶外絕緣中復(fù)合材料的動(dòng)態(tài)憎水特性評(píng)估: 憎水性保持和憎水性 遷移?在2010年12月出版, INMR 2011年第二期中對(duì)該試驗(yàn)進(jìn)行了簡(jiǎn)短的闡述。采 用這個(gè)試驗(yàn)對(duì)直流應(yīng)力下的該課題進(jìn)行了更加深入的研究。德國的兩所大學(xué)對(duì)從 交流到直流試驗(yàn)的再現(xiàn)性進(jìn)行了研究。這個(gè)試驗(yàn)在有效值為4kV的交流和幅值為 5.66kV (與峰值為4kV的交流電壓等效) 的正極性直流電壓下進(jìn)行。
試驗(yàn)結(jié)果2014年在 Electra 272中發(fā)表 (圖中TUM為慕尼黑科技大學(xué), Zittau為齊陶大學(xué)), 表明兩所大學(xué)實(shí) 驗(yàn)室的試驗(yàn)結(jié)果沒有顯著差異。然而, 所研究材料的憎水性能喪失的時(shí)間不同。LSR憎 水性能喪失得似乎比HTV快, 上述試驗(yàn)樣品的5000小時(shí)綜合老化試驗(yàn)的**個(gè)1000小 時(shí)內(nèi)的試驗(yàn)也證實(shí)了這一結(jié)果。現(xiàn)在將要對(duì)這兩種不同材料再次做動(dòng)態(tài)水滴試驗(yàn)。
ZUI后, 5000小時(shí)綜合老化試驗(yàn)有時(shí)也用來檢測(cè)復(fù)合護(hù)套絕緣子的耐漏電起痕和電蝕損 的性能, 但這是非強(qiáng)制性的, 不像1000小時(shí)連續(xù)鹽霧試驗(yàn)是強(qiáng)制性的。但涉及到大直 徑的試驗(yàn)樣品時(shí), 就成為了閃絡(luò)試驗(yàn), 而不是電蝕損試驗(yàn)。因此建議在維護(hù)小組修訂 IEC 62730時(shí), 按照IEC 62217中規(guī)定的要求修正鹽霧條件。注釋: 該文采用通用術(shù)語, 如HTV和LSR。試驗(yàn)中涉及的材料, 適用于復(fù)合絕緣市場(chǎng)上使用的各種硅橡膠材料。
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